Kagamitan sa Pag-inspeksyon sa Semiconductor

Ang MPC semiconductor inspection equipment kay bug-os nga awtomatik nga direksiyon nga dry dust removal system para sa CMOS image sensors. Gisangkapan kini og taas nga-resolusyon nga kamera nga makaila sa ultrafine nga particle nga langyaw nga butang ug makagiya sa mekanismo sa pagdikit sa abog aron mahimo ang taas nga-katukma nga direksyon sa pagtangtang sa abog. Makatangtang kini sa langyaw nga butang nga mas dako pa sa 700nm sa substrate/Sensor. Nasangkapan ang makina og high-speed servo module. Ang single/doble nga mga estasyon mahimong mapili sumala sa kapasidad sa produksiyon. Ang maximum nga kapasidad sa produksyon mao ang labaw pa kay sa 5000pcs/h. Makahimo kini og mga taho ug makamugna og mga diagram sa MAP. Sa parehas nga oras, ang datos mahimong ma-upload sa sistema sa MES sa kostumer.

Partikal nga Detection ug Paglimpyo, DB detection

● Semiconductor (optical module, Wafer)

● Semiconductor packaging ug testing industriya (Sensor, IR Filter, IC testing, fingerprint module)

Ang MPC semiconductor inspection equipment makapauswag pag-ayo sa production efficiency ug yield, mopuli sa tradisyonal nga manual sampling, ug ilabinang angay alang sa batch manufacturing sa taas nga bili-mga produkto nga gidugang. Kung kinahanglan nimo ang usa ka mas episyente nga solusyon, palihug konsultaha ang Huizhou Zhongke Advanced Manufacturing Co., Ltd.

Hot Tags: semiconductor inspection equipment, China semiconductor inspection equipment manufacturers, suppliers, pabrika

● Detection Accuracy: >0.6μm

● Floating Dust Removal Rate: >99.9%